共创显示次时代，思谋打造 Mini LED 智能检测
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共创显示次时代，思谋打造 Mini LED 智能检测
一体化实现了针对高端屏显的双环节智能化检测。该设备在 Mini LED 的封装环节中可同时进行外观检测与点亮检测，能够准确检测出偏移、锡膏、亮度、缺焊等10多种缺陷特征，漏检率仅为0.05%，并可在0.005毫米的精度要求下，达到 1000 ㎜²/秒的检测速度。
思谋集团旗下安思智造首创高端Mini LED光学缺陷检测一体机 – 深度融合思谋的智能工业平台 SMore ViMo 2.0 与智能化打光方案，一体化实现了针对高端屏显的双环节智能化检测。该设备在 Mini LED 的封装环节中可同时进行外观检测与点亮检测，能够准确检测出偏移、锡膏、亮度、缺焊等10多种缺陷特征，漏检率仅为0.05%，并可在0.005毫米的精度要求下，达到 1000 ㎜²/秒的检测速度。
此外，该设备采用标准的 SMEMA 接口，可与自动返修设备无缝对接，实现双环节检测的数据打通，有效追溯造成缺陷的源头工序，通过智检大数据实现了制造工艺全流程的反向提升。
Mini LED是OLED后新出现的显示技术。因为其具备高清晰、更流畅、低功耗、色彩丰富的特点，被认识是目前最适合作为元宇宙“入口”的显示技术，需求量激增。然而，Mini LED 面板晶片普遍不足0.1毫米，晶片体积小、布局密，质检难度极高，检测精度和效率一直难以提升，成为Mini LED大规模量产和应用的瓶颈。
思谋安思Mini LED 光学缺陷检测一体机不仅能够对 Mini LED面板进行智能化检测，还“能上能下”：可以无缝兼容传统的直显 LCD 面板的质检，更可满足晶片体积不足30纳米的Micro LED 面板的严苛检测需求，全面提升了高端屏显的质检能力，助推屏显行业的快速发展。
目前，该设备已在国内多家Mini LED 精密制造企业的产线上线，用于检测头部消费电子厂商基于Mini LED屏显的旗舰产品。对于高端技术与产品而言，可靠的质量是其“命门”，作为次时代显示技术的“把关”者，思谋始终致力于将计算机视觉技术落地于高端质检，不断以智能检测助力前沿制造业的加速发展，共创次时代视觉生态。
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